產(chǎn)品別名 |
X熒光光譜儀,上市公司 |
面向地區(qū) |
品牌 |
天瑞 |
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光源 |
X射線 |
X熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱XRF)是一種用于元素分析的科研儀器,通過利用X射線的熒光效應來探測樣品中的元素。該儀器廣泛應用于許多領域,如材料科學、環(huán)境監(jiān)測、考古學、地質(zhì)學以及工業(yè)生產(chǎn)等
X熒光光譜儀的工作原理基于X射線照射樣品時所產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象。當一束X射線照射到樣品表面時,樣品中的原子會吸收X射線能量,這使得一些內(nèi)層電子被激發(fā)并從原子中釋放。為了恢復穩(wěn)定狀態(tài),這些原子會從外層電子中捕獲電子,釋放出特定波長的熒光X射線。這些熒光X射線的波長和強度與樣品中元素的種類和數(shù)量密切相關,因此可以通過分析熒光X射線來確定樣品的成分及其含量。
軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng),中文版軟件(可安裝英文 軟件)件設置)
具有技術管理權限密碼功能,可以較好的保護測試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析,自動元素識別功能,方便對樣品 元素的識別和定性,并可以打印具有譜圖的定性分析 報告
可以由軟件自動控制切換準直器和濾光片,減少因人 為更換錯誤準直器,而造成測量的誤差
江蘇天瑞儀器股份有限公司 2年
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