分析性能，使其可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試： 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類

產(chǎn)品特點(diǎn) 1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析 2.可同時(shí)分析40種元素 3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù) 4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率 5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì)，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng) 6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作 7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量 對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。 譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過(guò)簡(jiǎn)單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

礦石光譜分析儀市場(chǎng)前景廣闊。礦石是重要的資源，對(duì)于許多行業(yè)和國(guó)家的經(jīng)濟(jì)發(fā)展至關(guān)重要。光譜分析儀是一種的儀器，可以用于礦石的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)分析，以及礦石質(zhì)量的評(píng)估。

礦石光譜分析儀能夠快速、準(zhǔn)確地分析礦石中的各種元素和化合物，幫助礦石開(kāi)采和加工企業(yè)更好地了解礦石的成分和特性。它們可以在礦山現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室中使用，提供實(shí)時(shí)的結(jié)果，幫助企業(yè)做出決策。

鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過(guò)樣品室或探頭被照射光源照射，樣品會(huì)吸收特定波長(zhǎng)的光，而其他波長(zhǎng)的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會(huì)被光譜儀接收并分析。