該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率：采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，了儀器工作的一致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。
性能特點(diǎn)
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。

X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的到之處在于：通過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識(shí)別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有的檢出限，為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求；同時(shí)引入了目前的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；
優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
特的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過了第三方機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證；
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線檢測(cè)以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。