產品功能：
1.具有遠程診斷功能說明:我們軟件集成了常用的DCS系統(tǒng)的通訊協(xié)議，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可與工廠的配料系統(tǒng)的控制中心或PLC進行數(shù)據(jù)交換，即可向配料系統(tǒng)傳送分析數(shù)據(jù)，也可傳送配比數(shù)據(jù)。實現(xiàn)在線數(shù)據(jù)分析、在線質量。
2.具有技術的，快速，安全，性能可靠而實用的樣品裝卸系統(tǒng)
3.搖臂式設計的樣品裝卸系統(tǒng)，完善的粉末保護方式，預真空室和限定位置機構，實現(xiàn)高度重現(xiàn)性，無故障，快速穩(wěn)定。1000W光路設計示意圖，

X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測試、EN71，測試結果度高。X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學檢測媲美，還大大節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導綠色生產過程中的檢測工具。

X熒光光譜儀分析粉末樣品主要有兩種方法：
①、熔融法。熔融法是應用較多的一種制樣方法，它較好地消除了顆粒度效應和礦物效應的影響。但熔融法也有缺點：因樣品被熔劑稀釋和吸收，使輕元素的測量強度減小；制樣復雜，要花費大量時間；成本也較高。
②、粉末壓片法
粉末壓片法的優(yōu)點是簡單、快速、經濟，在分析工作量大、分析精度要求不太高時應用很普遍，也常用于痕量元素的分析。在實際應用如水泥、巖石、化探樣品的分析中，粉末壓片是一種應用很廣泛的X熒光光譜儀制樣法。

X熒光光譜儀粉末樣品誤差主要來源：
（1） 粒度效應 粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強度越高，輕元素尤甚。原子序數(shù)越小，對粒度越敏感；同一元素粒度越小，制樣穩(wěn)定性越好。一般要求粒度小于200 目。
（2） 偏析 偏析是指組分元素在樣品中分布的差異。偏析有兩種：粒間偏析：粉末顆粒A 和B 之間混合不均勻；元素偏析：元素分布對粒度分布的非勻質性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情況下仍不能解決，可用其它制樣手段，如熔融，溶解等。
（3）礦物效應 由于礦物的化學結構或微觀晶體形態(tài)不同，含量相同的同一元素在不同的礦物中，它們的熒光強度會有很大的差異。所謂的礦物效應不單是針對礦物，在粉末樣品的X 熒光光譜儀分析中有著更廣泛的含義。

X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品經過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經過多步驟操作，還防止樣品的損失和沾污。

引起樣品誤差的原因：
（1）樣品物理狀態(tài)不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣；樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結晶及沉淀等。
（2）樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應等。
（3）樣品的組成不一致 引起吸收、增強效應的差異造成的誤差
（4）被測元素化學結合態(tài)的改變 樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學價態(tài)不同時，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。
（5）制樣操作 在制樣過程中的稱量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不完全，樣品粉碎混合不均勻，用于合成校準或基準試劑的純度不夠等。
3、樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品 包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品 包括各種礦產品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品 油類產品、水質樣品以及通過化學方法將固體轉換成的溶液等。