X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，了儀器工作的一致性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測(cè)試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測(cè)試、EN71，測(cè)試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測(cè)結(jié)果可以和化學(xué)檢測(cè)媲美，還大大節(jié)省儀器購(gòu)置成本、使用成本和檢測(cè)時(shí)間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè)工具。

x熒光光譜儀使用中常見(jiàn)的問(wèn)題及注意事項(xiàng)
1、過(guò)濾時(shí)有時(shí)會(huì)出現(xiàn)流動(dòng)相漏液?？赡艿脑蚴菫V膜放置不正確和接頭有點(diǎn)錯(cuò)位，導(dǎo)致流動(dòng)相從縫隙中漏出。
注意：操作時(shí)，應(yīng)先向?yàn)V瓶?jī)?nèi)倒入少量流動(dòng)相，觀察是否漏液并開始過(guò)濾，若未漏液，再向?yàn)V瓶中添加流動(dòng)相。
2、超聲時(shí)，瓶外液體的液面應(yīng)瓶?jī)?nèi)流動(dòng)相的液面，否則流動(dòng)相內(nèi)的氣體可能無(wú)法排出液體，氣體仍然殘留在流動(dòng)相內(nèi)，以致開機(jī)排氣時(shí)無(wú)氣泡排出。
3、開機(jī)排氣結(jié)束后，應(yīng)先將流動(dòng)相流量調(diào)小，再關(guān)閉排氣閥，否則會(huì)導(dǎo)致柱壓瞬間升高超過(guò)壓力上限，致使泵停止工作。
4、反相LC液相色譜儀沖洗柱子時(shí)，應(yīng)盡量避免使用純水流動(dòng)相沖洗柱子，因?yàn)樗詮?qiáng)，會(huì)損害色譜柱，導(dǎo)致柱效下降。
5、沖洗色譜柱時(shí)，還可以不同比例的混合流動(dòng)相沖洗色譜柱，以沖出不同性的殘留物質(zhì)，但還是要用純有機(jī)流動(dòng)相沖洗色譜柱一段時(shí)間。
6、在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)壓力超過(guò)上限或壓力偏高，有可能是柱內(nèi)有殘留物質(zhì)未被沖出，此時(shí)應(yīng)用較大流速的有機(jī)流動(dòng)相充分沖洗色譜柱。若條件允許，也可采用梯度洗脫的方式?jīng)_洗色譜柱。壓力過(guò)高也有可能是濾頭堵塞，此時(shí)可將濾頭取出放到中超聲。
7、若隔天或更長(zhǎng)時(shí)間不使用LC液相色譜儀，應(yīng)將兩流動(dòng)相瓶中均倒入純的有機(jī)流動(dòng)相（因?yàn)樗鲃?dòng)相長(zhǎng)時(shí)間不用會(huì)滋生，污染濾頭和色譜柱，導(dǎo)致下次開機(jī)使用時(shí)會(huì)出現(xiàn)鬼峰，基線不穩(wěn)）。
8、進(jìn)樣時(shí)所進(jìn)樣品的體積應(yīng)不小于色譜柱的容積，且進(jìn)樣時(shí)器里的氣泡一定要排出，不可將氣泡打進(jìn)色譜柱。

X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的到之處在于：通過(guò)巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來(lái)識(shí)別巖性，再通過(guò)巖性的組合特征分析來(lái)判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有的檢出限，為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求；同時(shí)引入了目前的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；
優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
特的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過(guò)了第三方機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證；
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線檢測(cè)以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。

X熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過(guò)程和步驟有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。X 射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作，還防止樣品的損失和沾污。