關(guān)鍵詞 |
天瑞光譜儀器,天瑞XRF測試儀,天瑞XRF檢測儀,國產(chǎn)XRF光譜儀 |
面向地區(qū) |
人性化的設(shè)計
更安全:X射線聯(lián)動安全裝置----光閘與聯(lián)動裝置互動;儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷:多點測試,點哪測哪
預(yù)約預(yù)熱:根據(jù)設(shè)定時間,儀器可定時開始測試
預(yù)約開機預(yù)熱功能:客戶可預(yù)約儀器開機時間,同時可以儀器預(yù)熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài);同時可以實現(xiàn)預(yù)約關(guān)機,關(guān)機前可設(shè)定聲光提示
X熒光光譜儀分析粉末樣品主要有兩種方法:
①、熔融法。熔融法是應(yīng)用較多的一種制樣方法,它較好地消除了顆粒度效應(yīng)和礦物效應(yīng)的影響。但熔融法也有缺點:因樣品被熔劑稀釋和吸收,使輕元素的測量強度減小;制樣復(fù)雜,要花費大量時間;成本也較高。
②、粉末壓片法
粉末壓片法的優(yōu)點是簡單、快速、經(jīng)濟,在分析工作量大、分析精度要求不太高時應(yīng)用很普遍,也常用于痕量元素的分析。在實際應(yīng)用如水泥、巖石、化探樣品的分析中,粉末壓片是一種應(yīng)用很廣泛的X熒光光譜儀制樣法。
X熒光光譜儀粉末樣品誤差主要來源:
(1) 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強度越高,輕元素尤甚。原子序數(shù)越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,制樣穩(wěn)定性越好。一般要求粒度小于200 目。
(2) 偏析 偏析是指組分元素在樣品中分布的差異。偏析有兩種:粒間偏析:粉末顆粒A 和B 之間混合不均勻;元素偏析:元素分布對粒度分布的非勻質(zhì)性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情況下仍不能解決,可用其它制樣手段,如熔融,溶解等。
(3)礦物效應(yīng) 由于礦物的化學(xué)結(jié)構(gòu)或微觀晶體形態(tài)不同,含量相同的同一元素在不同的礦物中,它們的熒光強度會有很大的差異。所謂的礦物效應(yīng)不單是針對礦物,在粉末樣品的X 熒光光譜儀分析中有著更廣泛的含義。