快,1秒鐘出結(jié)果
1、采用行業(yè)的速探測器技術(shù)——（SDD）分辨率低至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達(dá)25m㎡）、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低
2、采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)計數(shù)率，采集有效計數(shù)率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：使貴金屬的激發(fā)效率更高
4、光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度

X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測試、EN71，測試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學(xué)檢測媲美，還大大節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過程中的檢測工具。

x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1.檢測對象:液體/固體/粉末-固體樣品:點(diǎn)射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠(yuǎn)程控制-藍(lán)牙無線數(shù)據(jù)傳輸(或USB)-電池可持續(xù)運(yùn)作5小時-數(shù)據(jù)庫可無限擴(kuò)充
4.全球小的光譜
5.120mW激發(fā)光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達(dá)到限衍射的成像和光譜
8.數(shù)據(jù)庫可無限擴(kuò)展

X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。
受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常數(shù)。
而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：
E=hν=h C/λ
式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。
因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

引起樣品誤差的原因：
（1）樣品物理狀態(tài)不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣；樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結(jié)晶及沉淀等。
（2）樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等。
（3）樣品的組成不一致 引起吸收、增強(qiáng)效應(yīng)的差異造成的誤差
（4）被測元素化學(xué)結(jié)合態(tài)的改變 樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學(xué)價態(tài)不同時，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。
（5）制樣操作 在制樣過程中的稱量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不完全，樣品粉碎混合不均勻，用于合成校準(zhǔn)或基準(zhǔn)試劑的純度不夠等。
3、樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品 包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品 包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品 油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。

X熒光光譜儀分析法中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經(jīng)過簡單的切割達(dá)到X 熒光光譜儀分析的要求，只需表面拋光，液體樣品可以直接分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上直接進(jìn)行分析。而粉末樣品的制樣方法就比較復(fù)雜。這里只對常見的固體和粉末樣品的制樣方法進(jìn)行討論，液體樣品就不再討論。
1、固體樣品的主要缺點(diǎn)是，一般情況下不能采用各種添加法：如標(biāo)準(zhǔn)添加（或稀釋）法、低（或高）吸收稀釋法、內(nèi)標(biāo)法等。若所有樣品中已經(jīng)含有適當(dāng)?shù)?、一定濃度的?nèi)標(biāo)元素，則上述的后兩種方法還是可用的。另外，也不能進(jìn)行化學(xué)濃縮和分離。表面結(jié)構(gòu)和成分有時也難取得一致?？赡芘坏浆F(xiàn)成的標(biāo)樣，而人工合成又很困難。
2、制樣方法，固體樣品可用未加工的或經(jīng)加工的大塊材料或原材料（如生鐵，鋼錠等）制取。另外，也可把熔爐的熔融物直接澆鑄到小模子里。為防止緩慢冷卻時發(fā)生的成分偏析，好用激冷。經(jīng)拋光的原材料，或經(jīng)砂輪磨打的表面，一般是令人滿意的，但對后者仍需進(jìn)一步拋光，以減少表面粗糙度，并除去加工損傷的和沒有代表性的表面層。拋光的方法有許多種，包括：
（1）行帶式磨削，然后用拋光器拋光，其砂紙粒度依次由粗變細(xì)
（2）用車床、銑床或刨床進(jìn)行加工。對于薄板和箔，仔細(xì)操作，以表面不出現(xiàn)翹曲、和折痕。特別要注意不能照射時間太長，以免受熱變形。薄板和箔襯上一塊剛性支撐物，或把它們粘在一起。
制備固體樣品時要注意：
（1） 樣品的分析面不能有氣孔，析出物和多孔質(zhì)現(xiàn)象。
（2） 防止偏析。造成偏析的因素：合金的組成和密度；鑄模的材料、形狀和厚度；合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。