X熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱XRF）是一種用于元素分析的科研儀器，通過利用X射線的熒光效應(yīng)來探測樣品中的元素。該儀器廣泛應(yīng)用于許多領(lǐng)域，如材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、考古學(xué)、地質(zhì)學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等

X熒光光譜儀的工作原理基于X射線照射樣品時所產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象。當(dāng)一束X射線照射到樣品表面時，樣品中的原子會吸收X射線能量，這使得一些內(nèi)層電子被激發(fā)并從原子中釋放。為了恢復(fù)穩(wěn)定狀態(tài)，這些原子會從外層電子中捕獲電子，釋放出特定波長的熒光X射線。這些熒光X射線的波長和強度與樣品中元素的種類和數(shù)量密切相關(guān)，因此可以通過分析熒光X射線來確定樣品的成分及其含量。

無需樣品前處理：與其他分析方法相比，XRF不需要耗時的樣品準備過程，可以直接對固體、液體和粉末等多種形態(tài)的樣品進行分析。
快速分析：XRF技術(shù)能夠在短時間內(nèi)提供的分析結(jié)果，相比傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法，其分析速度有顯著優(yōu)勢。
高靈敏度和準確度：現(xiàn)代XRF儀器具有的靈敏度，能夠檢測到ppm（百萬分之一）級別的元素含量，并且可以同時分析多種元素。
非破壞性檢測：樣品在測試過程中不受損害，這使得XRF非常適合于貴重物品或易碎材料的分析。

標準配置移動樣品平臺
Si-pin探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文 軟件）件設(shè)置）
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以較好的保護測試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析，自動元素識別功能，方便對樣品 元素的識別和定性，并可以打印具有譜圖的定性分析 報告
可以由軟件自動控制切換準直器和濾光片，減少因人 為更換錯誤準直器，而造成測量的誤差

X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。下面我們來簡單介紹一下該儀器的原理。