X熒光光譜儀的工作原理基于X射線照射樣品時(shí)所產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象。當(dāng)一束X射線照射到樣品表面時(shí)，樣品中的原子會(huì)吸收X射線能量，這使得一些內(nèi)層電子被激發(fā)并從原子中釋放。為了恢復(fù)穩(wěn)定狀態(tài)，這些原子會(huì)從外層電子中捕獲電子，釋放出特定波長(zhǎng)的熒光X射線。這些熒光X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度與樣品中元素的種類和數(shù)量密切相關(guān)，因此可以通過分析熒光X射線來確定樣品的成分及其含量。

無需樣品前處理：與其他分析方法相比，XRF不需要耗時(shí)的樣品準(zhǔn)備過程，可以直接對(duì)固體、液體和粉末等多種形態(tài)的樣品進(jìn)行分析。
快速分析：XRF技術(shù)能夠在短時(shí)間內(nèi)提供的分析結(jié)果，相比傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法，其分析速度有顯著優(yōu)勢(shì)。
高靈敏度和準(zhǔn)確度：現(xiàn)代XRF儀器具有的靈敏度，能夠檢測(cè)到ppm（百萬分之一）級(jí)別的元素含量，并且可以同時(shí)分析多種元素。
非破壞性檢測(cè)：樣品在測(cè)試過程中不受損害，這使得XRF非常適合于貴重物品或易碎材料的分析。

X熒光光譜儀是一種、可靠且靈活的分析工具，對(duì)眾多領(lǐng)域的發(fā)展起到了顯著的推動(dòng)作用。隨著科技的進(jìn)步與不斷創(chuàng)新，XRF技術(shù)將會(huì)進(jìn)一步發(fā)展，為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用帶來更多可能。

應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性


標(biāo)準(zhǔn)配置移動(dòng)樣品平臺(tái)
Si-pin探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)

XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測(cè)儀器，由于其檢測(cè)速度快、分辨率高、實(shí)施無損檢測(cè)，所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多，以至于分不出誰好誰差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到：“用能量散射X射線熒光光譜法（ED－XRF）或波長(zhǎng)散射X射線熒光光譜法（WD－XRF）對(duì)試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測(cè)試，可以是直接測(cè)量樣品（不破壞樣品），也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”（機(jī)械破壞試樣）后測(cè)試。”能真正準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測(cè)。尤其是企業(yè)選購(gòu)，光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測(cè)用，非?？粗剡@一點(diǎn)。所以，能夠準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，又能限度地縮小“不確定”部分，而且全部過程是在短的時(shí)間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀