電子產(chǎn)品銷毀之磁盤數(shù)據(jù)銷毀的原因：
由于磁盤使用的是磁性介質(zhì)的存儲原理和數(shù)據(jù)的讀寫方法，普通的數(shù)據(jù)銷毀方法，如低級格式化和數(shù)據(jù)刪除，不能完全清除之前存儲的數(shù)據(jù)。操作系統(tǒng)和磁盤的隱性操作將產(chǎn)生剩余數(shù)據(jù)。為了避免使用殘差回收原始數(shù)據(jù)信息，造成安全泄漏的風(fēng)險，在磁盤崩潰或修復(fù)之前，捐贈的磁盤數(shù)據(jù)應(yīng)該按照不同的種類分類銷毀。

對于大部分電子產(chǎn)品，壽命是主要的可靠性特征量。因此，可靠性試驗往往指的就是壽命試驗。壽命試驗可分為非工作狀態(tài)的存儲壽命試驗和工作狀態(tài)的工作壽命試驗兩類。為了縮短試驗周期、減少樣品數(shù)量和試驗費用，常常采用加速壽命試驗。而在電子產(chǎn)品加速壽命試驗中，常用的應(yīng)力為溫度和電壓。

電子產(chǎn)品可靠性檢測機(jī)構(gòu)-找訊科標(biāo)準(zhǔn)
可靠性測試
目前，國內(nèi)汽車電子產(chǎn)品可靠性通用的可靠性測試手段，一般是在研發(fā)時采用傳統(tǒng)的性能各異的溫濕度箱來驗證提高產(chǎn)品的可靠性性能;在線生產(chǎn)采用的是老化壽命(即高溫等)的傳統(tǒng)測試方法。僅依靠以上這些傳統(tǒng)的測試手段，要達(dá)到目前國外汽車電子產(chǎn)品的技術(shù)指標(biāo)，尚存在著一定的困難。
產(chǎn)品都有其缺陷所在，當(dāng)這些故障發(fā)生時產(chǎn)品往往已超過了時效，尤其是配套應(yīng)用在汽車上的汽車電子產(chǎn)品可靠性，如DVD﹑汽車音響﹑多媒體接收系統(tǒng)等。如果不能在早期發(fā)現(xiàn)并解決潛藏在這些電子產(chǎn)品中的問題，而等其裝配到汽車上，用戶使用一段時間后才讓問題慢慢顯露出來，則會給制造商和用戶帶來大的損失。解決問題，先要發(fā)現(xiàn)問題的所在，借由增加外部環(huán)境應(yīng)力﹑強(qiáng)迫故障提早暴露出來，是早期發(fā)現(xiàn)和解決問題的一個有效方法。
汽車電子可靠性的主要測試功能如下：
* 利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計缺陷激發(fā)出來，并加以改善;
* 了解產(chǎn)品的設(shè)計能力及失效模式;
* 作為高應(yīng)力篩選及稽核規(guī)格制定的參考;
* 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵;
* 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本;
* 建立產(chǎn)品設(shè)計能力數(shù)據(jù)庫，為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設(shè)計制造周期。
在汽車電子可靠性試驗中可找到被測物在溫度及振動應(yīng)力下的可操作界限與破壞界限。此實驗所用設(shè)備為QualMark公司所設(shè)計的綜合環(huán)境試驗機(jī)(OVS Combined Stress System)，溫度范圍為-100℃～+200℃，溫度變化速率為60℃/min，加速度可到60Grms，而且振動機(jī)與溫度箱合二為一的設(shè)計可同時對被測物施加溫度與振動應(yīng)力。以下就四個試程的一般情況分別加以說明：
(1)溫度應(yīng)力
此項試驗分為低溫及高溫兩個階段應(yīng)力。先執(zhí)行低溫階段應(yīng)力，設(shè)定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩(wěn)定后維持10min，之后在階段穩(wěn)定溫度下執(zhí)行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩(wěn)定后維持10min再執(zhí)行功能，依此類推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達(dá)到操作界限或破壞界限;在完成低溫應(yīng)力試驗后，可依相同程序執(zhí)行高溫應(yīng)力試驗，即將綜合環(huán)境應(yīng)力試驗機(jī)自20℃開始，每階段升溫10℃，待溫度穩(wěn)定后維持10min，而后執(zhí)行功能測試直到發(fā)現(xiàn)高溫操作界限及高溫破壞界限為止。